Produkty » Šňůrka na krk na mobil » Šňůrka na krk 7mm

Hands free Siemens A55 / C55 / C65 / SX1 - STEREO - LUX

Hands free pro mobilní telefony Siemens: A52 / A55 / A57 / A60 / A62 / A65 / A70 / A75 / AL21 / AX72 / AX75 / C55 / C60 / C62 / C65 / C70 / C72 / C75 / CF62 / CF65 / CF75 / CF110 / CFX65 ...
Objednací kód:MHF0058
U nás zaplatíte:59,00 Kč (bez DPH 49,17 Kč)
Jinde zaplatíte:135,00

Hodnocení: 10/10
Pro možnost hodnocení povolte COOKIES
Podrobný popis:

Hands free pro mobilní telefony Siemens:

A52 / A55 / A57 / A60 / A62 / A65 / A70 / A75 / AL21 / AX72 / AX75 / C55 / C60 / C62 / C65 / C70 / C72 / C75 / CF62 / CF65 / CF75 / CF110 / CFX65 / CL50 / CL75 / CT65 / CT70 / CX65 / CX70 / CX75 / MC60 / ME75 / S55 / S65 / S75 / SF65 / SK65 / SL55 / SL65 / SL75 / SP65 / SX1 / SXG75

Handsfree s externím sluchátkem, mikrofon a tlačítko pro přijetí nebo pozdržení hovoru na jednom kabelu. Umožňuje volání s volnýma rukama. Vhodné pro při řízení, sportu a jiné činnosti kde potřebujete mít volné ruce.

Profesionální vysekávač SIM karty 2v1. Slouží pro profesionální výsek sim karet k aplikaci pro universální adaptér pro dvě SIM karty.
790,00 Kč
Originální kryt pro mobilní telefon Nokia: Nokia 5200
180,00 Kč
Flex kabel pro mobilní telefon Samsung: Samsung L760 Specifikace: * Kvalitní flex kabel - plochý vodič, slouží pro propojení základní desky mobilního telefonu s LCD mobilního telefonu
150,00 Kč
Originální přední kryt vhodný pro mobilní telefony Nokia: Nokia 5800XpressMusic
125,00 Kč
CENA: 0,00 Kč
POLOŽEK: 0 ks
Pouzdro LIGHT Samsung X810-Pouzdro LIGHT pro mobilní telefony Samsung :



Samsung X810

Průhledné pouzdro LIGHT je z měkčeného plastu a umožňuje velmi dobré ovládání telefonu bez nutnosti vyjmutí telefonu z pouzdra. 

Zabezpečuje kvalitní ochranu proti mechanickým vlivům a vnikání nečistot.
Pouzdro LIGHT pro mobilní telefony Samsung : Samsung X810 Průhledné pouzdro LIGHT je z měkčeného plastu a umožňuje velmi dobré ovládání telefonu bez nutnosti vyjmutí telefonu z pouzdra. Zabezpečuje kvalitní ochranu proti mechanickým vlivům a vnikání nečistot.